因為專業(yè)
所以領(lǐng)先
微電子封裝芯片互連技術(shù)是實現(xiàn)芯片與基板、芯片與芯片之間電氣連接的核心工藝。根據(jù)搜索結(jié)果,當前主流技術(shù)包括引線鍵合(WB)、倒裝芯片(FCB)、載帶自動焊(TAB)、硅通孔(TSV)及混合鍵合等,以下從技術(shù)原理、工藝流程及優(yōu)缺點等方面展開詳細解析:

技術(shù)原理:通過金屬細絲(金、鋁或銅線)將芯片焊區(qū)與基板焊盤連接,利用熱、壓力和超聲波能量實現(xiàn)冶金結(jié)合。
工藝分類:
熱壓鍵合:加熱加壓使金屬絲與焊區(qū)接觸面原子擴散形成鍵合,適用于金絲鍵合(球形鍵合)。
超聲鍵合:通過超聲振動破壞氧化層并促進金屬塑性變形,適用于鋁絲鍵合(楔形鍵合)。
金絲球鍵合:結(jié)合熱超聲波能量,先熔化金屬絲形成球形端,再與焊區(qū)鍵合,廣泛用于高可靠性場景。
優(yōu)缺點:
優(yōu)點:成本低、工藝成熟,適用于低密度封裝(如QFP、CSP)。
缺點:引線長度限制高頻性能,易受電磁干擾,不適用于高密度互連。
應(yīng)用領(lǐng)域:移動設(shè)備中的DRAM、NAND芯片封裝。
技術(shù)原理:將芯片倒置,通過焊球(如錫鉛、無鉛焊料)直接連接芯片與基板,縮短電氣路徑。
工藝流程:
芯片凸點制作(電鍍、置球法等)。
芯片與基板對準并回流焊,形成可靠電氣連接。
優(yōu)缺點:
優(yōu)點:高I/O密度、高頻性能優(yōu)異,散熱效果優(yōu)于引線鍵合。
缺點:凸塊間距受焊料限制(傳統(tǒng)工藝難以低于10μm),需底部填充材料緩解熱應(yīng)力。
應(yīng)用領(lǐng)域:CPU、GPU、高速DRAM封裝。
技術(shù)原理:利用預(yù)置金屬引線圖形的柔性載帶(如聚酰亞胺基材),通過熱壓或超聲波實現(xiàn)芯片與載帶的互連。
工藝流程:
芯片凸點制作(UBM層+焊料凸點)。
載帶與芯片對準并內(nèi)引線鍵合(ILB),再外引線鍵合(OLB)至基板。
優(yōu)缺點:
優(yōu)點:引線間距更小(可達50μm),電感低,適合高密度封裝。
缺點:載帶成本高,工藝復(fù)雜度高于引線鍵合。
應(yīng)用領(lǐng)域:高密度存儲器、邏輯芯片封裝。
技術(shù)原理:在硅芯片上刻蝕通孔并填充導(dǎo)電材料(如銅),實現(xiàn)芯片垂直堆疊互連。
工藝流程:
深反應(yīng)離子刻蝕(DRIE)形成通孔。
絕緣層沉積與銅填充(電鍍)。
微凸塊制作與堆疊封裝(如HBM內(nèi)存)。
優(yōu)缺點:
優(yōu)點:突破平面互連限制,支持多層堆疊(如SK海力士12層HBM3)。
缺點:制造復(fù)雜度高,需解決熱應(yīng)力與信號完整性問題。
應(yīng)用領(lǐng)域:高帶寬存儲器(HBM)、3D封裝。
技術(shù)原理:同時實現(xiàn)氧化物界面鍵合與銅-銅直接鍵合,無需傳統(tǒng)焊料凸塊。
工藝特點:
無焊料鍵合:減少鍵合層厚度,降低電阻。
銅間距突破:凸塊間距可縮小至1μm以下,支持更高密度互連。
優(yōu)缺點:
優(yōu)點:優(yōu)異的電學(xué)性能與散熱能力,適用于Chiplet異構(gòu)集成。
缺點:對表面平整度與對準精度要求極高,工藝成本高。
應(yīng)用領(lǐng)域:高性能計算(HPC)、AI芯片封裝。
| 技術(shù)類型 | 互連密度 | 工藝復(fù)雜度 | 成本 | 典型應(yīng)用場景 |
| 引線鍵合 | 低 | 低 | 低 | 移動設(shè)備、低速存儲器 |
| 倒裝芯片 | 中 | 中 | 中 | CPU、GPU |
| 載帶自動焊 | 中高 | 中高 | 高 | 高密度存儲器 |
| 硅通孔(TSV) | 高 | 高 | 高 | 3D封裝、HBM |
| 混合鍵合 | 極高 | 極高 | 極高 | Chiplet、異構(gòu)集成 |
未來趨勢:
Chiplet技術(shù)驅(qū)動:混合鍵合與TSV技術(shù)將進一步融合,推動低成本異構(gòu)集成。
材料創(chuàng)新:功率超聲輔助的納米燒結(jié)技術(shù)可實現(xiàn)低溫連接與高溫服役,解決第三代半導(dǎo)體(如SiC)封裝難題。
工藝優(yōu)化:SK海力士的MR-MUF工藝通過大規(guī)模回流模塑底部填充,提升堆疊效率與可靠性。

以上技術(shù)均基于搜索結(jié)果中的具體工藝參數(shù)與案例,涵蓋了當前微電子封裝領(lǐng)域的核心互連技術(shù)及其發(fā)展方向。
微電子封裝芯片封裝清洗劑選擇:
水基清洗的工藝和設(shè)備配置選擇對清洗精密器件尤其重要,一旦選定,就會作為一個長期的使用和運行方式。水基清洗劑必須滿足清洗、漂洗、干燥的全工藝流程。
污染物有多種,可歸納為離子型和非離子型兩大類。離子型污染物接觸到環(huán)境中的濕氣,通電后發(fā)生電化學(xué)遷移,形成樹枝狀結(jié)構(gòu)體,造成低電阻通路,破壞了電路板功能。非離子型污染物可穿透PC B 的絕緣層,在PCB板表層下生長枝晶。除了離子型和非離子型污染物,還有粒狀污染物,例如焊料球、焊料槽內(nèi)的浮點、灰塵、塵埃等,這些污染物會導(dǎo)致焊點質(zhì)量降低、焊接時焊點拉尖、產(chǎn)生氣孔、短路等等多種不良現(xiàn)象。
這么多污染物,到底哪些才是最備受關(guān)注的呢?助焊劑或錫膏普遍應(yīng)用于回流焊和波峰焊工藝中,它們主要由溶劑、潤濕劑、樹脂、緩蝕劑和活化劑等多種成分,焊后必然存在熱改性生成物,這些物質(zhì)在所有污染物中的占據(jù)主導(dǎo),從產(chǎn)品失效情況來而言,焊后殘余物是影響產(chǎn)品質(zhì)量最主要的影響因素,離子型殘留物易引起電遷移使絕緣電阻下降,松香樹脂殘留物易吸附灰塵或雜質(zhì)引發(fā)接觸電阻增大,嚴重者導(dǎo)致開路失效,因此焊后必須進行嚴格的清洗,才能保障電路板的質(zhì)量。
合明科技研發(fā)的水基清洗劑配合合適的清洗工藝能為芯片封裝前提供潔凈的界面條件。
合明科技運用自身原創(chuàng)的產(chǎn)品技術(shù),滿足芯片封裝工藝制程清洗的高難度技術(shù)要求,打破國外廠商在行業(yè)中的壟斷地位,為芯片封裝材料全面國產(chǎn)自主提供強有力的支持。
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